一、手持式合金分析儀技術(shù)參數(shù)：

重量：1.7kg
尺寸：30cm（L） x 10cm（W） x 28cm（H）
分析范圍：Ti-U之間的所有元素
激發(fā)源：X射線管（陶瓷），Ag靶，zui大電壓40kV
語言：漢語，英語，韓語，日語，俄語，德語，意大利語，法語，荷蘭語，西班牙語，墨西哥語等（用戶自選）
檢測器：高分辨率SI-PIN檢測器
操作系統(tǒng)：HP掌上電腦：Windows 5.0
Bruker 軟件
冷卻系統(tǒng)
Peltier恒溫冷卻系統(tǒng)，保證儀器的使用壽命和精度
電源
可交、直流供電；2節(jié)充電鋰電池，可連續(xù)工作8-12小時(shí)
電池充電器
交流充電器：110/220V，50/60Hz
顯示器
240x320彩顯; 65,536像素; 背景光可調(diào); 觸摸屏
數(shù)據(jù)傳輸
USB、紅外、藍(lán)牙、無線局域網(wǎng)
數(shù)據(jù)存儲
主機(jī)：512MB
存儲卡：CF/SD/MSD卡，2GB，能存儲幾百萬個牌號和測量數(shù)據(jù)
高溫測量
熱表面適配器，可測量500℃高溫樣品
安全
密碼保護(hù)，設(shè)有多級安全鎖.
運(yùn)輸
減震、抗壓、防水、密封儀器箱
質(zhì)保期
2年
環(huán)境范圍
-20℃～ 50℃
認(rèn)證
二、手持式合金分析儀優(yōu)點(diǎn)：
無損、定量分析
快速、便攜、可靠
能夠分析Al, Mg, Si
可編輯用戶數(shù)據(jù)庫
測量元素范圍可低至Mg（12）
微軟實(shí)時(shí)系統(tǒng)（MS CE）軟件提供圖譜分析
高靈敏度，可檢測低至PPM的微量元素
PXRF軟件還具有定性和定量分析功能，控制光管的電壓和電流，使之適用于大范圍的元素測量。
NASA/Bruker共有真空-無氦氣消耗，精度可靠。

三、手持合金分析儀的原理：

　　手持式礦石元素分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素， 同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長（λ）及能量（E）確定具體元素，而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術(shù)就能測定物質(zhì)的元素構(gòu)成。

　　每一個原子都有自己固定數(shù)量的電子（負(fù)電微粒）運(yùn)行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質(zhì)子（正電微粒）數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)我們則可以得知質(zhì)子的數(shù)目。每一個原子數(shù)都對應(yīng)固定的元素名稱，例如鐵，元素名是Fe，原子數(shù)是26。 能量色散X螢光與波長色散X螢光光譜分析技術(shù)特別研究與應(yīng)用了zui里層三個電子軌道即K，L，M上的活動情況，其中K軌道zui為接近核子，每個電子軌道則對應(yīng)某元素一個個特定的能量層。

　　手持合金分析儀在XRF分析法中，從X光發(fā)射管里放射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將zui里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時(shí)，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過程中，它們會釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。

　　而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時(shí)間內(nèi)所放射出來的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布情況。